同惠TH199X高精度源表(SMU)快速測試半導體器件I/V特性
電子測量儀器作為基礎科研工具,是國家科研自主可控的重要環節。在半導體器件、超導材料和光電器件等測試領域中,為了更全面地檢測器件特性,提升整個測試系統的效率,往往對供給電源和測量同步性方面有更嚴苛的要求。
TH1991/TH1992系列精密源/測量單元可輸出高達±210V直流電壓、±3A直流電流以及±10.5A脈沖電流、最小10fA/100nV的電源和測量分辨率,支持高速采樣,可生成任意波形。
TH1992為雙通道版本,相較于單通道版本,TH1992支持雙通道同步輸出及測量,對于3端器件的測試更友好,可極大提升測試效率。
二極管I/V特性
晶體二極管也稱為半導體二極管,簡稱二極管(Diode)。內部由一塊P型半導體和N型半導體經特殊工藝加工,在其接觸面上形成一個PN結。外部有兩個電極,分別稱為正極(P型區一側)和負極(N型區一側),使用時不能將正負極接反。
因此,二極管具有單向導電性,可用于整流、檢波、穩壓等電路中。用來產生、控制、接收、變換、進行能量轉換等。
衡量二極管特性和核心是二極管的伏安特性曲線(簡稱I/V特性)
如何測試二極管的I/V特性?以常見的1N4148保護二極管為例
連接好之后,操作更簡單,具體操作如下:
共8步,可以將二極管正反向IV曲線全部測出,全程觸摸屏操作,無需連接電腦上位機,曲線可直接截屏及生成csv表格,快捷簡單。
因此,使用TH199X系列精密源/測量單元(SMU)測試更精確、更快捷,適合從產線到實驗室各種場合,如果您有更多疑問或需求可以關注西安安泰測試**哦!非常榮幸為您排憂解難。