泰克示波器應(yīng)用|輕松解決DDR內(nèi)存系統(tǒng)測試難題

發(fā)布日期：2022-10-11 17:41:40 瀏覽數(shù)：

DDR應(yīng)用現(xiàn)狀：

隨著近十年以來智能手機(jī)、智能電視、AI技術(shù)的風(fēng)起云涌，人們對(duì)容量更高、速度更快、能耗更低、物理尺寸更小的嵌入式和計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)器的需求不斷提高，DDR SDRAM也不斷地響應(yīng)市場的需求和技術(shù)的升級(jí)推陳出新。

目前，用于主存的DDR SDRAM系列的芯片已經(jīng)演進(jìn)到了DDR5了，但市場上對(duì)經(jīng)典的DDR3 SDRAM的需求仍然比較旺盛。

測試痛點(diǎn)：

測試和驗(yàn)證電子設(shè)備中的DDR內(nèi)存，客戶一般面臨三大難題：

1.如何連接DDR內(nèi)存管腳；

2.如何探測和驗(yàn)證突發(fā)的讀寫脈沖信號(hào)；

3.配置測試系統(tǒng)完成DDR內(nèi)存一致性測試。

泰克測試方案：

為解決研發(fā)人員在DDR內(nèi)存系統(tǒng)研發(fā)、調(diào)試和驗(yàn)證測試的難題，推薦配置基于泰克示波器MSO64B的內(nèi)存調(diào)試及一致性測試系統(tǒng)，主要功能如下：

· 完整的覆蓋DDR3和LPDDR3規(guī)范測試的項(xiàng)目

· 自動(dòng)實(shí)現(xiàn)突發(fā)Write/Read信號(hào)分離，可以在同一次采集數(shù)據(jù)中完成參數(shù)測試；

· 對(duì)控制器端可以自定義修改電平門限，適用不同存儲(chǔ)接口的設(shè)計(jì)；

· 支持CMD總線解碼，更加直觀的反應(yīng)內(nèi)存總線讀寫時(shí)序；

· 同時(shí)兼顧標(biāo)準(zhǔn)化測試和單項(xiàng)調(diào)試，可以用于產(chǎn)品調(diào)試和驗(yàn)證環(huán)節(jié)；

· 自動(dòng)生成一致性測試報(bào)告，匯總測試數(shù)據(jù)和關(guān)鍵波形截圖

· TDP77系列三模探頭，提供DDR測試專用FLEXB柔性連接附件，針對(duì)DDR芯片/顆粒狹小空間設(shè)計(jì)，配合Interposer完成各種類型DDR芯片的信號(hào)連接

系統(tǒng)中的泰克示波器MSO6B是全新一代高精度/多通道信號(hào)采集與分析設(shè)備，具有12bits高分辨率ADC，uV級(jí)的本底噪聲和50Gs/s高采樣率，準(zhǔn)確捕獲和分析DDR讀寫和控制信號(hào)FlexChannel技術(shù)通過TLP058探頭可以靈活將任一模擬通道轉(zhuǎn)變?yōu)?路數(shù)字通道，實(shí)現(xiàn)數(shù)字通道測試。

泰克示波器應(yīng)用|輕松解決DDR內(nèi)存系統(tǒng)測試難題(圖1)

方案優(yōu)勢：

使用泰克DDR測試系統(tǒng)，工程師可以享受到如下便利：

· 無需參考復(fù)雜的JEDEC規(guī)范，快速測試關(guān)鍵指標(biāo)系統(tǒng)參數(shù)，找到系統(tǒng)潛在風(fēng)險(xiǎn)；泰克提供與JEDEC聯(lián)合發(fā)布的測試MOI，指導(dǎo)使用者輕松完成信號(hào)連接、儀器設(shè)置與全自動(dòng)或手動(dòng)測試。

· 通過探頭可以將系統(tǒng)工作時(shí)的波形準(zhǔn)確的采集下，提供最直接最深入的信號(hào)接口時(shí)序/幅度信息，無需設(shè)置特定的測試場景；

· 對(duì)特殊場景下DDR/LPDDR的應(yīng)用提供測試能力，可以確保系統(tǒng)性能的前提下找到芯片工作的極限條件；

· 無需人工進(jìn)行READ/WRITE的區(qū)分，全自動(dòng)軟件判斷，或者通過CMD總線進(jìn)行聯(lián)合調(diào)試，發(fā)現(xiàn)潛在的時(shí)序風(fēng)險(xiǎn)；

核心技術(shù)指標(biāo)：